Oficiālais kopsavilkums · Deutsch
Kas tiek iepirkts?
300 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
Informatīvs mašīntulkojums. Oficiālais kopsavilkums joprojām ir noteicošais.
Oficiālais kopsavilkums · Deutsch
300 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
Paziņojuma vēsture
Iepirkuma procedūras laika skala
Sekojiet galvenajiem posmiem un atjauninājumiem, kas saistīti ar šo iepirkuma procedūru.
Cits saistīts paziņojums vēl nav identificēts.
Dati ir pārstrukturēti vieglākai lasīšanai. Oficiālais paziņojums un iepirkuma dokumenti vienmēr ir noteicošie.
Avots un uzticamība
TED · 413311-2026. Pārbaudīts 2026. gada 23. aug. 02:05.
Dati ir pārstrukturēti vieglākai lasīšanai. Oficiālais paziņojums un iepirkuma dokumenti vienmēr ir noteicošie.