Ametlik kokkuvõte · Deutsch
Mida hangitakse?
300 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
Abistav masintõlge. Ametlik kokkuvõte jääb määravaks.
Ametlik kokkuvõte · Deutsch
300 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
Teate ajalugu
Hankemenetluse ajajoon
Jälgige selle hankemenetlusega seotud põhietappe ja uuendusi.
Ühtegi muud seotud teadet ei ole veel tuvastatud.
Andmed on lihtsamaks lugemiseks ümber struktureeritud. Alati on ülimuslikud ametlik teade ja hankedokumendid.
Allikas ja usaldusväärsus
TED · 413311-2026. Kontrollitud 23. aug 2026 02:05.
Andmed on lihtsamaks lugemiseks ümber struktureeritud. Alati on ülimuslikud ametlik teade ja hankedokumendid.