Sintesi ufficiale · Deutsch
Che cosa viene acquistato?
300 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
Traduzione automatica indicativa. Il riepilogo ufficiale resta il riferimento.
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300 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
Cronologia dell’avviso
Cronologia della procedura di appalto
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Fonte e affidabilità
TED · 413311-2026. Verificato il 23 ago 2026, 02:05.
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