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Paesi Bassi · Apparecchiature di laboratorio, ottiche e di precisione

Titolo ufficiale · Nederlands

Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope

Technische Universiteit Delft · Paesi Bassi

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Sintesi ufficiale · Nederlands

Voor deze onderzoeksdoelen is gedetailleerde analyse van microstructuren en interfaces essentieel. Een FIB-SEM (Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope) is noodzakelijk om: • 3D-reconstructies van elektrodematerialen te maken en porositeit en degradatiemechanismen te analyseren. • Lokale karakterisering van interfaces, zoals de Solid Electrolyte Interphase, uit te voeren, wat cruciaal is voor levensduur en veiligheid. • Structurele veranderingen…

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Scadenza Non indicato
Valore stimato610.000 EUR
Pubblicato29 mag 2026
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Sintesi ufficiale · Nederlands

Che cosa viene acquistato?

Voor deze onderzoeksdoelen is gedetailleerde analyse van microstructuren en interfaces essentieel. Een FIB-SEM (Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope) is noodzakelijk om: • 3D-reconstructies van elektrodematerialen te maken en porositeit en degradatiemechanismen te analyseren. • Lokale karakterisering van interfaces, zoals de Solid Electrolyte Interphase, uit te voeren, wat cruciaal is voor levensduur en veiligheid. • Structurele veranderingen tijdens batterijcycli te onderzoeken, ter ondersteuning van de ontwikkeling van nieuwe batterijchemieën. • Monsters met hoge precisie voor te bereiden voor Transmission Electron Microscopy (TEM) en operando studies. 1

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TED · 367646-2026. Verificato il 22 ago 2026, 15:05.

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