Attribué TED · Source · Langue: Nederlands

Pays-Bas · Équipements de laboratoire, d’optique et de précision

Titre officiel · Nederlands

Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope

Technische Universiteit Delft · Pays-Bas

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Résumé officiel · Nederlands

Voor deze onderzoeksdoelen is gedetailleerde analyse van microstructuren en interfaces essentieel. Een FIB-SEM (Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope) is noodzakelijk om: • 3D-reconstructies van elektrodematerialen te maken en porositeit en degradatiemechanismen te analyseren. • Lokale karakterisering van interfaces, zoals de Solid Electrolyte Interphase, uit te voeren, wat cruciaal is voor levensduur en veiligheid. • Structurele veranderingen…

Quel est l’objet du marché ?
Échéance Non communiqué
Valeur estimée610 000 EUR
Publié29 mai 2026
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Résumé officiel · Nederlands

Quel est l’objet du marché ?

Voor deze onderzoeksdoelen is gedetailleerde analyse van microstructuren en interfaces essentieel. Een FIB-SEM (Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope) is noodzakelijk om: • 3D-reconstructies van elektrodematerialen te maken en porositeit en degradatiemechanismen te analyseren. • Lokale karakterisering van interfaces, zoals de Solid Electrolyte Interphase, uit te voeren, wat cruciaal is voor levensduur en veiligheid. • Structurele veranderingen tijdens batterijcycli te onderzoeken, ter ondersteuning van de ontwikkeling van nieuwe batterijchemieën. • Monsters met hoge precisie voor te bereiden voor Transmission Electron Microscopy (TEM) en operando studies. 1

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    · TED 367646-2026

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Source et fiabilité

TED · 367646-2026. Vérifié le 22 août 2026 à 15:05.

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