Dodijeljeno TED · Izvor · Jezik: Nederlands

Nizozemska · Laboratorijska, optička i precizna oprema

Službeni naslov · Nederlands

Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope

Technische Universiteit Delft · Nizozemska

Pogledajte objave pod ovim nazivom
Službeni sažetak · Nederlands

Voor deze onderzoeksdoelen is gedetailleerde analyse van microstructuren en interfaces essentieel. Een FIB-SEM (Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope) is noodzakelijk om: • 3D-reconstructies van elektrodematerialen te maken en porositeit en degradatiemechanismen te analyseren. • Lokale karakterisering van interfaces, zoals de Solid Electrolyte Interphase, uit te voeren, wat cruciaal is voor levensduur en veiligheid. • Structurele veranderingen…

Što se nabavlja?
Rok Nije objavljeno
Procijenjena vrijednost610 000 EUR
Objavljeno29. svi 2026.
Otvorite službenu obavijest ↗

Službeni sažetak · Nederlands

Što se nabavlja?

Voor deze onderzoeksdoelen is gedetailleerde analyse van microstructuren en interfaces essentieel. Een FIB-SEM (Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope) is noodzakelijk om: • 3D-reconstructies van elektrodematerialen te maken en porositeit en degradatiemechanismen te analyseren. • Lokale karakterisering van interfaces, zoals de Solid Electrolyte Interphase, uit te voeren, wat cruciaal is voor levensduur en veiligheid. • Structurele veranderingen tijdens batterijcycli te onderzoeken, ter ondersteuning van de ontwikkeling van nieuwe batterijchemieën. • Monsters met hoge precisie voor te bereiden voor Transmission Electron Microscopy (TEM) en operando studies. 1

Povijest obavijesti

Vremenski slijed postupka nabave

Pratite glavne faze i izmjene povezane s ovim postupkom nabave.

Još nije pronađena nijedna druga povezana obavijest.

  1. Obavijest o rezultatu Trenutačna obavijest

    · TED 367646-2026

    Otvorite službenu obavijest ↗

Podaci su preuređeni radi lakšeg čitanja. Službena obavijest i dokumentacija uvijek imaju prednost.

Izvor i pouzdanost

TED · 367646-2026. Provjereno 22. kol 2026. 15:05.

Podaci su preuređeni radi lakšeg čitanja. Službena obavijest i dokumentacija uvijek imaju prednost.

Prijavite pogrešku e-poštom