Virallinen yhteenveto · Deutsch
Mitä hankitaan?
200 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
Suuntaa antava konekäännös. Virallinen yhteenveto on edelleen ensisijainen.
Virallinen yhteenveto · Deutsch
200 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
Ilmoitushistoria
Hankintamenettelyn aikajana
Seuraa tähän hankintamenettelyyn liittyviä päävaiheita ja päivityksiä.
Muita tähän liittyviä ilmoituksia ei ole vielä tunnistettu.
Tiedot on jäsennetty helpommin luettaviksi. Virallinen ilmoitus ja hankinta-asiakirjat ovat aina ratkaisevia.
Lähde ja luotettavuus
TED · 432100-2026. Tarkistettu 23.8.2026 klo 6.05.
Tiedot on jäsennetty helpommin luettaviksi. Virallinen ilmoitus ja hankinta-asiakirjat ovat aina ratkaisevia.