Officielt resumé · Deutsch
Hvad indkøbes?
200 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
Vejledende maskinoversættelse. Det officielle resumé er fortsat gældende.
Officielt resumé · Deutsch
200 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
Meddelelseshistorik
Udbudsforløb
Følg de vigtigste faser og opdateringer i dette udbud.
Der er endnu ikke fundet en anden relateret meddelelse.
Data er omstruktureret for at være lettere at læse. Den officielle meddelelse og udbudsdokumenterne er altid gældende.
Kilde og pålidelighed
TED · 432100-2026. Kontrolleret 23. aug. 2026 06.05.
Data er omstruktureret for at være lettere at læse. Den officielle meddelelse og udbudsdokumenterne er altid gældende.