Alemania · Equipos de laboratorio, ópticos y de precisión
Título oficial · Deutsch
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Título oficial · Deutsch
Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung
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Friedrich-Schiller-Universität Jena · Alemania
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Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt für ihre wissenschaftliche Tätigkeit den Kauf eines (1) Kompakt-Rasterelektronenmikroskops zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung von Nanopartikeln und Nanofasern. Das System soll eine einfache Bedienung sowie eine wartungsarme Instandhaltung ermöglichen. Mindestanforderungen: siehe Anlage 2.
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Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt für ihre wissenschaftliche Tätigkeit den Kauf eines (1) Kompakt-Rasterelektronenmikroskops zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung von Nanopartikeln und Nanofasern. Das System soll eine einfache Bedienung sowie eine wartungsarme Instandhaltung ermöglichen. Mindestanforderungen: siehe Anlage 2.
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TED · 792044-2026. Verificado el 13 nov. 2026 11:05.
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