Vokietija · Laboratorinė, optinė ir tikslioji įranga
Oficialus pavadinimas · Deutsch
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Oficialus pavadinimas · Deutsch
Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung
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Friedrich-Schiller-Universität Jena · Vokietija
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Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt für ihre wissenschaftliche Tätigkeit den Kauf eines (1) Kompakt-Rasterelektronenmikroskops zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung von Nanopartikeln und Nanofasern. Das System soll eine einfache Bedienung sowie eine wartungsarme Instandhaltung ermöglichen. Mindestanforderungen: siehe Anlage 2.
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Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt für ihre wissenschaftliche Tätigkeit den Kauf eines (1) Kompakt-Rasterelektronenmikroskops zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung von Nanopartikeln und Nanofasern. Das System soll eine einfache Bedienung sowie eine wartungsarme Instandhaltung ermöglichen. Mindestanforderungen: siehe Anlage 2.
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TED · 792044-2026. Patikrinta 2026-11-13 11:05.
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