Attribué TED · Source

Suisse · Équipements de laboratoire, d’optique et de précision

Titre officiel · Français

Appareils de mesure pour la caractérisation de dispositifs semiconducteurs RF

EPFL-Scientific Equipment · Suisse

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Résumé officiel

L’EPFL souhaite acquérir un système de mesure load-pull actif en dessous du térahertz (sub-THz), ainsi qu’une série d’extenseurs de fréquence adaptés aux unités de mesure VNA et VMU, pour la caractérisation de dispositifs semiconducteurs RF (3 lots). Ce système couvrira une plage de fréquences allant d’environ 75 GHz à 260 GHz pour des mesures de puissance élevée, ainsi que des extenseurs supplémentaires à faible puissance couvrant la plage de 220 GHz à…

Quel est l’objet du marché ?
Échéance Non communiqué
Valeur estiméeNon communiqué
Publié25 juin 2026
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Résumé officiel

Quel est l’objet du marché ?

L’EPFL souhaite acquérir un système de mesure load-pull actif en dessous du térahertz (sub-THz), ainsi qu’une série d’extenseurs de fréquence adaptés aux unités de mesure VNA et VMU, pour la caractérisation de dispositifs semiconducteurs RF (3 lots). Ce système couvrira une plage de fréquences allant d’environ 75 GHz à 260 GHz pour des mesures de puissance élevée, ainsi que des extenseurs supplémentaires à faible puissance couvrant la plage de 220 GHz à 330 GHz (et au-delà), pour le POWERlab de l’Institut de génie électrique et de microtechnique (IEM). L’équipement sera dédié à la recherche de pointe sur les dispositifs de puissance en ondes millimétriques et sub-THz, ainsi que sur les circuits intégrés monolithiques hyperfréquences (MMICs). Conformément aux objectifs scientifiques du POWE

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Source et fiabilité

TED · 434663-2026. Vérifié le 23 août 2026 à 07:05.

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