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Appareils de mesure pour la caractérisation de dispositifs semiconducteurs RF

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Virallinen yhteenveto · Français

L’EPFL souhaite acquérir un système de mesure load-pull actif en dessous du térahertz (sub-THz), ainsi qu’une série d’extenseurs de fréquence adaptés aux unités de mesure VNA et VMU, pour la caractérisation de dispositifs semiconducteurs RF (3 lots). Ce système couvrira une plage de fréquences allant d’environ 75 GHz à 260 GHz pour des mesures de puissance élevée, ainsi que des extenseurs supplémentaires à faible puissance couvrant la plage de 220 GHz à…

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Julkaistu25.6.2026
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Virallinen yhteenveto · Français

Mitä hankitaan?

L’EPFL souhaite acquérir un système de mesure load-pull actif en dessous du térahertz (sub-THz), ainsi qu’une série d’extenseurs de fréquence adaptés aux unités de mesure VNA et VMU, pour la caractérisation de dispositifs semiconducteurs RF (3 lots). Ce système couvrira une plage de fréquences allant d’environ 75 GHz à 260 GHz pour des mesures de puissance élevée, ainsi que des extenseurs supplémentaires à faible puissance couvrant la plage de 220 GHz à 330 GHz (et au-delà), pour le POWERlab de l’Institut de génie électrique et de microtechnique (IEM). L’équipement sera dédié à la recherche de pointe sur les dispositifs de puissance en ondes millimétriques et sub-THz, ainsi que sur les circuits intégrés monolithiques hyperfréquences (MMICs). Conformément aux objectifs scientifiques du POWE

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