Virallinen yhteenveto · English
Mitä hankitaan?
KTH is seeking a spectroscopic ellipsometer with automatic wafer-mapping capability for measurement of thin film thickness and optical constants (n, k), for installation in the Electrum Laboratory cleanroom.
Suuntaa antava konekäännös. Virallinen yhteenveto on edelleen ensisijainen.
Virallinen yhteenveto · English
KTH is seeking a spectroscopic ellipsometer with automatic wafer-mapping capability for measurement of thin film thickness and optical constants (n, k), for installation in the Electrum Laboratory cleanroom.
Valmistelulista
Valmistele tarjoukseni
Virallisista asiakirjoista tarkistettavat asiat. Opas ei ole automaattinen asiakirja-analyysi.
- Lue kaikki asiakirjat ja muutokset
- Tarkista osallistumisehdot ja vaaditut asiakirjat
- Tarkista vaaditaanko käyntiä tai kokousta
- Tarkista vertailuperusteet ja painotukset
- Tarkista käytettävissä olevat resurssit, budjetti ja aikataulu
- Vahvista jättämismenettely ja määräaika
TED · 625226-2026. Tarkistettu 11.9.2026 klo 9.05.
https://ted.europa.eu/en/notice/-/detail/625226-2026
Ilmoitushistoria
Hankintamenettelyn aikajana
Seuraa tähän hankintamenettelyyn liittyviä päävaiheita ja päivityksiä.
Muita tähän liittyviä ilmoituksia ei ole vielä tunnistettu.
Tiedot on jäsennetty helpommin luettaviksi. Virallinen ilmoitus ja hankinta-asiakirjat ovat aina ratkaisevia.
Lähde ja luotettavuus
TED · 625226-2026. Tarkistettu 11.9.2026 klo 9.05.
Tiedot on jäsennetty helpommin luettaviksi. Virallinen ilmoitus ja hankinta-asiakirjat ovat aina ratkaisevia.