Uudempi julkaisu on saatavilla.
Korjausilmoitus · TED 701668-2026 ·
Ruotsi · Laboratorio-, optiset ja tarkkuuslaitteet
Virallinen otsikko · English
Suuntaa-antava automaattinen käännös lukemisen helpottamiseksi. Alla oleva virallinen otsikko on ensisijainen.
Virallinen otsikko · English
Semiautomatic ellipsometer
Tiedot on jäsennetty helpommin luettaviksi. Virallinen ilmoitus ja hankinta-asiakirjat ovat aina ratkaisevia.
Kungliga Tekniska högskolan · Ruotsi
Näytä tällä nimellä julkaistut ilmoituksetVirallinen yhteenveto · English
KTH is seeking a spectroscopic ellipsometer with automatic wafer-mapping capability for measurement of thin film thickness and optical constants (n, k), for installation in the Electrum Laboratory cleanroom.
Suuntaa antava konekäännös. Virallinen yhteenveto on edelleen ensisijainen.
KTH is seeking a spectroscopic ellipsometer with automatic wafer-mapping capability for measurement of thin film thickness and optical constants (n, k), for installation in the Electrum Laboratory cleanroom.
Ostajan alusta voi edellyttää rekisteröitymistä. Jätä tarjouksesi kyseisellä alustalla.
Ilmoitushistoria
Seuraa tähän hankintamenettelyyn liittyviä päävaiheita ja päivityksiä.
Tiedot on jäsennetty helpommin luettaviksi. Virallinen ilmoitus ja hankinta-asiakirjat ovat aina ratkaisevia.
TED · 625226-2026. Tarkistettu 11.9.2026 klo 9.05.
Tiedot on jäsennetty helpommin luettaviksi. Virallinen ilmoitus ja hankinta-asiakirjat ovat aina ratkaisevia.
