Ametlik kokkuvõte · English
Mida hangitakse?
KTH is seeking a spectroscopic ellipsometer with automatic wafer-mapping capability for measurement of thin film thickness and optical constants (n, k), for installation in the Electrum Laboratory cleanroom.
Abistav masintõlge. Ametlik kokkuvõte jääb määravaks.
Ametlik kokkuvõte · English
KTH is seeking a spectroscopic ellipsometer with automatic wafer-mapping capability for measurement of thin film thickness and optical constants (n, k), for installation in the Electrum Laboratory cleanroom.
Ettevalmistuse loend
Valmista minu pakkumus ette
Ametlikest dokumentidest kontrollitavad punktid. Juhend ei ole automaatne dokumendianalüüs.
- Loe kõiki dokumente ja muudatusi
- Kontrolli osalemistingimusi ja nõutud dokumente
- Kontrolli kas nõutakse külastust või koosolekut
- Vaata hindamiskriteeriume ja nende osakaale
- Kontrolli ressursse, eelarvet ja ajakava
- Kinnita esitamise kord ja tähtaeg
TED · 625226-2026. Kontrollitud 11. sept 2026 09:05.
https://ted.europa.eu/en/notice/-/detail/625226-2026
Teate ajalugu
Hankemenetluse ajajoon
Jälgige selle hankemenetlusega seotud põhietappe ja uuendusi.
Ühtegi muud seotud teadet ei ole veel tuvastatud.
Andmed on lihtsamaks lugemiseks ümber struktureeritud. Alati on ülimuslikud ametlik teade ja hankedokumendid.
Allikas ja usaldusväärsus
TED · 625226-2026. Kontrollitud 11. sept 2026 09:05.
Andmed on lihtsamaks lugemiseks ümber struktureeritud. Alati on ülimuslikud ametlik teade ja hankedokumendid.