Geschlossen TED · Quelle · Sprache: Nederlands

Belgien · Labor-, optische und Präzisionsgeräte

Amtlicher Titel · Nederlands

WAFER-COMPATIBELE PLASMA GEFOCUSTE IONENBUNDEL-SCANNING ELEKTRONENMICROSCOOP (PFIB-SEM) SYSTEEM

Imec EU Pilot line NV · Belgien

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Amtliche Zusammenfassung · Nederlands

Was wird beschafft?

WAFER-COMPATIBELE PLASMA GEFOCUSTE IONENBUNDEL-SCANNING ELEKTRONENMICROSCOOP (PFIB-SEM) SYSTEEM

Frist 06.07.2026 13:30 UTC+02:00
Geschätzter WertNicht angegeben
Veröffentlicht04.06.2026
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Bekanntmachungsverlauf

Zeitlicher Ablauf des Vergabeverfahrens

Verfolgen Sie die wichtigsten Phasen und Aktualisierungen dieses Vergabeverfahrens.

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  1. Auftragsbekanntmachung Aktuelle Bekanntmachung

    · TED 382478-2026

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Die Daten werden für eine leichtere Lesbarkeit neu strukturiert. Maßgeblich sind stets die amtliche Bekanntmachung und die Vergabeunterlagen.

Quelle und Verlässlichkeit

TED · 382478-2026. Geprüft am 22.08.2026, 18:05.

Die Daten werden für eine leichtere Lesbarkeit neu strukturiert. Maßgeblich sind stets die amtliche Bekanntmachung und die Vergabeunterlagen.

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