Otvoreno Izvor · Jezik: English

Nizozemska · Laboratorijska, optička i precizna oprema

Službeni predmet English

Automated Wafer Level Inspection Tool

Država i sektor su prevedeni; predmet ostaje u izvorniku.

Technische Universiteit Eindhoven · Nizozemska

Rok 2. lis 2026. 12:00 UTC
Procijenjena vrijednostNije objavljeno
Objavljeno19. kol 2026.
Otvori službenu obavijest ↗

Sažetak prilike

Što se nabavlja?

The delivery and installation of a Automated Wafer Level Inspection Tool 1

Izvor i pouzdanost

Izvor: službena TED obavijest 572735-2026, zadnji put provjerena 21. kol 2026. 21:06. Izvorna objava ostaje mjerodavna.

Podaci su preuređeni radi lakšeg čitanja. Službena obavijest i dokumentacija uvijek imaju prednost.