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Sveitsi · Laboratorio-, optiset ja tarkkuuslaitteet

Virallinen otsikko · Deutsch

Plasma FIB/SEM for room-temperature and cryogenic applications

Paul Scherrer Institut (PSI) · Sveitsi

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Virallinen yhteenveto · Deutsch

Das neue Gerät bestehend aus einem Rasterelektronenmikroskop und einer Strahlquelle mit fokussiertem Plasma-Ionenstrahl soll sowohl für Anwendungen bei tiefen Temperaturen (gefrorenes biologisches Gewebe und empfindliche Proben wie z.B. Batteriematerialien) als auch bei Raumtemperatur (alle Arten von festem Material) verwendet werden. Das Gerät muss daher gleicherweise Raumtemperatur- und cryo-kompatibel sein, sowie ermöglichen, die Materialien unter…

Mitä hankitaan?
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Julkaistu16.7.2026
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Virallinen yhteenveto · Deutsch

Mitä hankitaan?

Das neue Gerät bestehend aus einem Rasterelektronenmikroskop und einer Strahlquelle mit fokussiertem Plasma-Ionenstrahl soll sowohl für Anwendungen bei tiefen Temperaturen (gefrorenes biologisches Gewebe und empfindliche Proben wie z.B. Batteriematerialien) als auch bei Raumtemperatur (alle Arten von festem Material) verwendet werden. Das Gerät muss daher gleicherweise Raumtemperatur- und cryo-kompatibel sein, sowie ermöglichen, die Materialien unter Inertgas/Vakuum-Bedingungen zu transferieren. Bei den Hauptanwendungen handelt es sich um die Herstellung von dünnen Lamellen für die Untersuchung im Transmissions-Elektronenmikroskop und um die Herstellung von zylinderförmigen Proben für die Untersuchung mittels Röntgenstrahlung im Synchrotron. Weitere wichtige Anwendungen sind die Untersuchu

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