Ametlik kokkuvõte · Français
Mida hangitakse?
Pour ses activités de recherche visant au développement des technologies FD-SOI 10 nm et au-delà, le CEA-LETI souhaite acquérir un équipement 300mm pour de l’inspection optique face avant, capable de détecter des défauts d’une taille minimale de 300nm pour de l’inspection microscopique, et des tailles de défauts supérieurs à 10µm pour de l’inspection macroscopique. L’équipement devra être équipé de plusieurs lentille optique et pourra traiter des plaques 200mm et 300mm d’épaisseur variable. Il devra pouvoir traiter des fichiers au format spécifique KLARF et permettre de la revue et de la classification de défaut.…
Abistav masintõlge. Ametlik kokkuvõte jääb määravaks.
Ametlik kokkuvõte · Français
Pour ses activités de recherche visant au développement des technologies FD-SOI 10 nm et au-delà, le CEA-LETI souhaite acquérir un équipement 300mm pour de l’inspection optique face avant, capable de détecter des défauts d’une taille minimale de 300nm pour de l’inspection microscopique, et des tailles de défauts supérieurs à 10µm pour de l’inspection macroscopique. L’équipement devra être équipé de plusieurs lentille optique et pourra traiter des plaques 200mm et 300mm d’épaisseur variable. Il devra pouvoir traiter des fichiers au format spécifique KLARF et permettre de la revue et de la classification de défaut.…
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TED · 725375-2026. Kontrollitud 20. okt 2026 11:05.
https://ted.europa.eu/fr/notice/-/detail/725375-2026
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TED · 725375-2026. Kontrollitud 20. okt 2026 11:05.
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