Avatud Allikas · Keel: Deutsch

Saksamaa · Labori-, optika- ja täppisseadmed

Ametlik teema Deutsch

High resolution X-ray inspection tool

Riik ja sektor on tõlgitud; teema jääb lähtekeelde.

Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | IMWS vertreten durch: Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS · Saksamaa

Tähtaeg 4. sept 2026 08:00 UTC
Eeldatav maksumusTeatamata
Avaldatud6. aug 2026
Ava ametlik teade ↗

Võimaluse kokkuvõte

Mida hangitakse?

The Fraunhofer Institute for Microstructure of Materials and Systems IMWS researches the application behaviour, reliability, safety and lifetime of innovative materials in components and systems. The Business Unit “Electronic Materials and Components” Fraunhofer IMWS support industry and research partners by its internationally recognized expertise in failure analyses of electronic components. Fraunhofer IMWS will enhance its capabilities for advanced failure analysis and material characterization to support the ramp up of new heterogenous integration technologies addressing the manufacturing and reliability challenges. To enable the non-destructive detection and evaluation of structural deviations, contact defects, damage characteristics and their most precise possible localization in the

Allikas ja usaldusväärsus

Allikas: ametlik TEDi teade 544623-2026, viimati kontrollitud 21. aug 2026 20:06. Määravaks jääb algne väljaanne.

Andmed on lihtsamaks lugemiseks ümber struktureeritud. Alati on ülimuslikud ametlik teade ja hankedokumendid.