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Für die Erweiterung der elektronenmikroskopischen Charakterisierung am Leibniz-IOM wird ein neuer pixelierter Hybrid-Detektor (Neugerät) inklusive Lieferung, Installation, Integration in das vorhandene Transmissionselektronenmikroskop (TEM) FEI Titan3 G2 60-300 sowie Einweisung in Hard- und Software ausgeschrieben. Durch die Nachrüstung des vorhandenen TEM mit einem schnellen, direkt detektierenden, pixelierten Hybrid-Detektor sollen insbesondere moderne elektronenbeugungsbasierte Messverfahren ermöglicht bzw. erweitert werden. Hierzu zählen insbesondere 4D-STEM und Nanobeugung (NBED) Verfahren. Er muss für hochenergetische Elektronen geeignet sein und eine hohe Empfindlichkeit, einen großen Dynamikbereich sowie eine schnelle Datenerfassung ermöglichen.…
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Für die Erweiterung der elektronenmikroskopischen Charakterisierung am Leibniz-IOM wird ein neuer pixelierter Hybrid-Detektor (Neugerät) inklusive Lieferung, Installation, Integration in das vorhandene Transmissionselektronenmikroskop (TEM) FEI Titan3 G2 60-300 sowie Einweisung in Hard- und Software ausgeschrieben. Durch die Nachrüstung des vorhandenen TEM mit einem schnellen, direkt detektierenden, pixelierten Hybrid-Detektor sollen insbesondere moderne elektronenbeugungsbasierte Messverfahren ermöglicht bzw. erweitert werden. Hierzu zählen insbesondere 4D-STEM und Nanobeugung (NBED) Verfahren. Er muss für hochenergetische Elektronen geeignet sein und eine hohe Empfindlichkeit, einen großen Dynamikbereich sowie eine schnelle Datenerfassung ermöglichen.…
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Öffentliche Vergabe · 25922204. Kontrolleret 14. okt. 2026 02.11.
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