Officielt resumé · Français
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La consultation comprend : - La fourniture d’un microscope à faisceau d’ions focalisés (FIB) à plasma couplé avec une colonne de microscope électronique à balayage (MEB), - Des options : o Formation à la maintenance 1er niveau o Porte échantillons supplémentaires o Consommables (y compris les configurations d'ouverture standard) o Refroidissement des échantillons sans azote o Possibilité de filtrer les électrons secondaires du signal rétrodiffusé o Formation à la maintenance avancée
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Officielt resumé · Français
La consultation comprend : - La fourniture d’un microscope à faisceau d’ions focalisés (FIB) à plasma couplé avec une colonne de microscope électronique à balayage (MEB), - Des options : o Formation à la maintenance 1er niveau o Porte échantillons supplémentaires o Consommables (y compris les configurations d'ouverture standard) o Refroidissement des échantillons sans azote o Possibilité de filtrer les électrons secondaires du signal rétrodiffusé o Formation à la maintenance avancée
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Kilde og pålidelighed
TED · 299503-2026. Kontrolleret 21. aug. 2026 22.08.
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