Обобщение на възможността
Какво се възлага?
200 mm Wafer Prober incl. Temperature Testing (IIS-05.1)
Източник и надеждност
Източник: официално обявление в TED 543721-2026, последно проверено на 21.08.2026 г., 20:06 ч.. Оригиналната публикация остава меродавна.
Данните са преструктурирани за по-лесно четене. Официалното обявление и документите винаги имат предимство.