BEGIN:VCALENDAR
VERSION:2.0
PRODID:-//Tenderiva//Public procurement deadline//EN
CALSCALE:GREGORIAN
METHOD:PUBLISH
BEGIN:VEVENT
UID:765660-2026@tenderiva.com
DTSTAMP:20261104T040356Z
DTSTART:20261208T080000Z
SUMMARY:Tenderiva — ZP/G/S/64/26 Modułowa platf. do oceny jakości stop
 ów metali lekkich wytw. na bazie mat. z recyklingu\, cz. 3 Skaningowy mik
 roskop elektron.(SEM) wraz z zintegrowanym syst. do precyzyjnych analiz ma
 t. i morfolog./Modular platf. for quality assessm. of light metal alloys f
 rom recycled materials\, lot 3: Scanning electron microscope(SEM) with an 
 integrated syst. for precise mat. and morpholog. analysis
DESCRIPTION:Polonia · Echipamente de laborator\, optice și de precizie\nS
 ieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Metali Nieżelaznych\nTED 765660-202
 6\nhttps://ted.europa.eu/pl/notice/-/detail/765660-2026
URL:https://tenderiva.com/ro/tender/765660-2026-polska-skanujace-mikroskopy
 -elektronowe-zp-g-s-64-26-moduowa-platf-do-oceny-jakosci-stopow-metali-lek
 kich-wytw-na-bazie-mat-z-recyklingu-cz-3-skaningo
STATUS:CONFIRMED
TRANSP:TRANSPARENT
END:VEVENT
END:VCALENDAR