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SUMMARY:Tenderiva — High resolution X-ray inspection tool
DESCRIPTION:Duitsland · Laboratorium-\, optische en precisieapparatuur\nFr
 aunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | IMWS
  vertreten durch: Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen u
 nd Systemen IMWS\nTED 544623-2026\nhttps://ted.europa.eu/de/notice/-/detai
 l/544623-2026
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 sgerate-high-resolution-x-ray-inspection-tool
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