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SUMMARY:Tenderiva — High resolution X-ray inspection tool
DESCRIPTION:il-Ġermanja · Tagħmir tal-laboratorju\, ottiku u ta’ preċ
 iżjoni\nFraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung 
 e.V. | IMWS vertreten durch: Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von We
 rkstoffen und Systemen IMWS\nTED 544623-2026\nhttps://ted.europa.eu/de/not
 ice/-/detail/544623-2026
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