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SUMMARY:Tenderiva — High resolution X-ray inspection tool
DESCRIPTION:Allemagne · Équipements de laboratoire\, d’optique et de pr
 écision\nFraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung
  e.V. | IMWS vertreten durch: Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von W
 erkstoffen und Systemen IMWS\nTED 544623-2026\nhttps://ted.europa.eu/de/no
 tice/-/detail/544623-2026
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